Можно предположить, что снижение эффекта шероховатости на эффективную скорость горения ТРТ вызвано тем, что остатки клея после зачистки создавали своего рода бронирующее покрытие на части поверхности ТРТ. Тщательное удаление с по-мощью растворителя клея, попавшего на поверхность заряда, до отверждения клея обеспечивает практически полное восстановление номинальных характеристик воспламенения и горения ТРТ. Однако менее тщательное удаление клея (простое вытирание поверхности заряда сухой тканью) привело к увеличению времени задержки воспламенения на 16% и уменьшению на 15. [44]
При отсутствии контакта тефлоновой пластины с поверхностью заряда в процессе отверждения ТРТ наблюдалось резкое ухудшение характеристик воспламенения и уменьшение эффективной скорости горения ТРТ. Снижение параметра dp/dt составило 28%. Причиной этого могло быть аномально высокое содержание связующего на свободной поверхности заряда, возникшее в период отверждения ТРТ. При этом изменение уровня влажности поверхности пластины не оказало заметного влияния на эффективную скорость горения, поскольку непосредственный контакт пластины и ТРТ отсутствовал.
Если влажная тефлоновая пластина находилась в тесном контакте с поверх-ностью заряда, то присутствие влаги оказывало сильное отрицательное влияние на скорость горения ТРТ. Это связано с растворением части ПА перед отверждением ТРТ. Эффект обогащения ТРТ пластификатором с точки зрения его влияния на скорость горения и воспламеняемость слабо зависел от того, вводился ли избыточный пластификатор в весь объем ТРТ или только в околоповерхностный слой. Если в составе ТРТ оказывалась значительная примесь материала лайнера, то время задержки воспламенения образца ТРТ в дуговой отражательной печи уменьшилось по сравнению с контрольным вариантом (№ 1) из-за повышения степени черноты поверхности ТРТ. Однако скорость горения СТТ очень сильно уменьшилась, и горение заряда в модельном РДТТ происходило при весьма низком уровне давления. Наличие инея на поверхности СТТ вызывало некоторое уменьшение скорости горения и снижение величины Ар/At в модельном РДТТ примерно на 20%.
